橡膠無轉(zhuǎn)子硫化儀CC500E 

一.  主要技術(shù)指標(biāo)
A．高精度傳感器：0~20N.m。解析度：0.001N.m。
B．控制系統(tǒng)：采用計(jì)算機(jī)控制和接口板進(jìn)行數(shù)據(jù)的采集、保存、處理和打印試驗(yàn)結(jié)果及曲線處理。
C．旋轉(zhuǎn)系統(tǒng)：采用步進(jìn)Electronics調(diào)速電機(jī)＋振幅調(diào)整器。 擺動角度：±0.5º。
D．控溫系統(tǒng)：采用Inigent數(shù)字式溫控儀表，實(shí)時(shí)Automatism調(diào)整PID控制參數(shù)。
溫度控制范圍 0--200℃ 、 測溫控制精度 ≤±0.3℃ 、溫度分辯率 0.1℃。
橡膠無轉(zhuǎn)子硫化儀CC500E E. 數(shù)據(jù)傳輸方式：RS232傳輸
F．顯示方式:Vulcanize－105 WIN-XP測試軟件計(jì)算機(jī)屏幕顯示，加上優(yōu)良的用戶軟件
和良好的硬件設(shè)備使得整個(gè)測量變得非常方便、快捷、精確和愉快。
G．模腔：Cr6wv材質(zhì)，符合GB/T16584－1996標(biāo)準(zhǔn)要求。
F．測控方式：人性化的測控方式，鼠標(biāo)即點(diǎn)即用或主機(jī)面板輕觸按鍵兩種試驗(yàn)方式
新型無轉(zhuǎn)子硫化儀 橡膠無轉(zhuǎn)子硫化儀 橡膠硫化儀二. 無轉(zhuǎn)子硫化儀軟件功能介紹
A．測試標(biāo)準(zhǔn)化：符合GB/T16584《橡膠－用無轉(zhuǎn)子硫化儀測定特性硫化》、ISO6502:1991及ASTMD5289－95。
B．試品資料：設(shè)定的膠料編號名，如“外胎5號”，“RBS6“等等。用戶如需另加標(biāo)題名稱說明打印的圖紙時(shí)，
可設(shè)定任何形式的標(biāo)題文字說明。
  C．高品質(zhì)功能的特別說明：人性化設(shè)計(jì)的優(yōu)良功能是在測試過程中可以修改測量時(shí)間，膠料估計(jì)20分鐘硫化完成，
設(shè)20分鐘測量時(shí)間，實(shí)做11分鐘時(shí)發(fā)現(xiàn)9分，10分處就已經(jīng)
硫化完成，這時(shí)已沒必要再往下做，只需“修改測量時(shí)間”下的20分為9分或10分，按“送出”，實(shí)驗(yàn)立即停止在9或
10分上，畫出完整硫化曲線，計(jì)算出所有數(shù)據(jù)。如果實(shí)驗(yàn)做到18分，19分鐘要結(jié)束時(shí)硫化曲線仍在往上升，硫化還
未完成，實(shí)驗(yàn)必須再往下做，否則得出的數(shù)據(jù)是錯(cuò)誤的。這時(shí)可修改測量時(shí)間為25分或更多，讓實(shí)驗(yàn)繼續(xù)，直到硫化
完成為止。這一功能無疑大大方便了用戶，節(jié)約了寶貴時(shí)間和膠料。
D．圖形曲線尺度自動*化Auto Scale，測量完成后，軟件將根據(jù)測量數(shù)值大小按0—5 Mv0—10Mv 0-20Mv自動調(diào)
整Y標(biāo)度，使曲線更美觀，多曲線對比，*不同的膠料，不同的曲線形狀，不同的測量時(shí)間，亦可進(jìn)行對比。
E．?dāng)?shù)據(jù)庫：軟件預(yù)先設(shè)定了100個(gè)編號的數(shù)據(jù)庫。每一個(gè)庫可以存入無限組測量數(shù)據(jù)。面對幾個(gè)月、幾年、幾十年
成千上萬組數(shù)據(jù)日后查詢方便，用戶可以將不同時(shí)間段的數(shù)據(jù)放入不同的數(shù)據(jù)庫中，設(shè)定數(shù)據(jù)庫地址的目的就在于此。
F．測試結(jié)束自動存檔，測試完畢自動求算t10、t30、t50、t70、t90、ts1、ts2、Vc1、Vc2、zui大扭矩、zui小扭矩等等。
新型無轉(zhuǎn)子硫化儀 橡膠無轉(zhuǎn)子硫化儀 橡膠硫化儀三. 無轉(zhuǎn)子硫化儀附件
 

產(chǎn)品名稱：平面光帶檢測儀 平面光帶檢測儀  產(chǎn)品型號：JC-008 平面光帶檢測儀 平面光帶檢測儀 型號：JC-008 用途：  機(jī)械密封件、光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。  功率：20W 電源：220V/50Hz 燈源照射     平面平晶規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm  φ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做     平面平晶產(chǎn)品特點(diǎn)  *平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來  測量被測量面的平面度。  *平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定  高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于  計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。